摘要：本發(fā)明公開了一種具有高靈敏度和大測量范圍的納米光纖折射率傳感器，包括光源、第一單模光纖、第二單模光纖、第一納米光纖、第二納米光纖、探測器；光源與第一單模光纖相連，第一單模光纖分別與第一納米光纖和第二納米光纖耦合相連，形成第一耦合區(qū)；第一納米光纖由第一納米光纖第一段、第一納米光纖第二段、第一納米光纖第三段組成；第一納米光纖第一段、第一納米光纖第二段、第一納米光纖第三段相交處形成第三耦合區(qū)；第一納米光纖和第二納米光纖再與第二單模光纖耦合相連，形成第二耦合區(qū)；第二單模光纖與探測器相連。本發(fā)明通過納米光纖環(huán)形諧振腔保證高的折射率測量靈敏度，通過M?Z干涉調(diào)制包絡(luò)提高折射率的測量動態(tài)范圍。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人浙江大學(xué);
- 發(fā)明人賀青;黃騰超;龐斌;劉承;舒曉武;
- 地址310058 浙江省杭州市西湖區(qū)余杭塘路866號
- 申請?zhí)?/b>CN201410208702.9
- 申請時間2014年05月16日
- 申請公布號CN104034696B
- 申請公布時間2016年08月24日
- 分類號G01N21/45(2006.01)I;
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