摘要：為了提高阿達瑪變換近紅外光譜儀微鏡陣列單個微鏡的光通量，進而提高檢測靈敏度和信噪比，本發(fā)明提供了一種新型的阿達瑪變換近紅外光譜儀。阿達瑪變換近紅外光譜儀，包括由微鏡排列成的一維微鏡陣列，微鏡鏡面的形狀為具有長軸和短軸的長條形狀，所述一維微鏡陣列由微鏡之間沿微鏡鏡面短軸方向并排呈直線排列，排列方向沿光譜色散方向。經(jīng)前置光學系統(tǒng)和光柵色散后的不同波長區(qū)間的光分別照射到所述并行排列的微鏡表面，經(jīng)微鏡反射后由后置光學系統(tǒng)聚焦到檢測器上。由于增加了單個微鏡的面積，增大了光通量，因此采用本發(fā)明的技術(shù)方案可以使儀器檢測靈敏度提高，檢測結(jié)果的信噪比提高十倍以上。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京華夏科創(chuàng)儀器技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人張新民;
- 地址100085北京市海淀區(qū)上地信息路2號2座10E
- 申請?zhí)?/b>CN200810239142.8
- 申請時間2008年12月10日
- 申請公布號CN101419163A
- 申請公布時間2009年04月29日
- 分類號G01N21/45(2006.01)I;
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