摘要：本發(fā)明公開了一種硅錠自動精檢生產(chǎn)線，依次包括上料區(qū)、雜質(zhì)檢測工作區(qū)、外觀檢測工作區(qū)和下料區(qū)，上料區(qū)設(shè)置有用于取放硅錠的上料機(jī)器人，雜質(zhì)檢測工作區(qū)設(shè)置有傳輸帶、直角坐標(biāo)機(jī)器人和紅外檢測裝置，外觀檢測工作區(qū)設(shè)置有外觀檢測裝置，下料區(qū)設(shè)置有下料機(jī)器人，直角坐標(biāo)機(jī)器人抓取傳輸帶上的硅錠送至紅外檢測裝置處，紅外檢測裝置用于檢測硅錠的內(nèi)部雜質(zhì)，外觀檢測裝置用于檢測硅錠的外觀缺陷。本發(fā)明能夠在硅錠的檢測過程中實(shí)現(xiàn)硅錠的上下料、搬運(yùn)傳送全自動處理，解放了勞動力，提高了生產(chǎn)效率。同時還減少了人工搬運(yùn)過程中對硅錠的磕碰、劃傷等二次傷害，降低了后續(xù)的檢測和加工的工作量，減少了硅錠原料加工的浪費(fèi)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學(xué)無錫研究院;
- 發(fā)明人張剛;喬永立;張慶龍;奚云飛;
- 地址214174 江蘇省無錫市堰新路311號才智廣場3號樓11~12樓
- 申請?zhí)?/b>CN201510207553.9
- 申請時間2015年04月28日
- 申請公布號CN104807832A
- 申請公布時間2015年07月29日
- 分類號G01N21/89(2006.01)I;
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