摘要：本發(fā)明提供一種激光切割系統(tǒng)調(diào)焦裝置及調(diào)焦方法。所述激光切割系統(tǒng)調(diào)焦裝置包括具有傾斜測(cè)試平面的測(cè)量臺(tái)及垂直于切割平面的測(cè)量尺，所述測(cè)量臺(tái)的測(cè)試平面用于承載切割測(cè)試件并使切割測(cè)試件與切割平面相交，從而檢測(cè)切割激光的焦平面位置，所述測(cè)量尺用于測(cè)量所述焦平面與切割平面之間的垂直距離。本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低廉，操作方便、直觀的優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明還提供一種使用所述激光切割系統(tǒng)調(diào)焦裝置的調(diào)焦方法。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京國(guó)科世紀(jì)激光技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人樊仲維;陳天廣;
- 地址100192 北京市海淀區(qū)西小口路66號(hào)東升科技園北領(lǐng)地C區(qū)7號(hào)樓二層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201010539799.3
- 申請(qǐng)時(shí)間2010年11月11日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN102463415A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2012年05月23日
- 分類號(hào)B23K26/36(2006.01)I;B23K26/04(2006.01)I;
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