摘要：本發(fā)明提供一種永磁體表面磁場強度的檢測裝置及檢測方法。所述檢測裝置包括C型軟磁材料零件、傳送軌道和霍爾探頭，其中，永磁體通過傳送軌道輸送到C型軟磁材料零件的開口處，霍爾探頭設(shè)置在被測永磁體與C型軟磁材料零件所形成的氣隙中。所述方法包括將永磁體放置在C型軟磁材料零件的開口處，使永磁體與C型軟磁材料零件之間形成氣隙，并在氣隙中形成均勻磁場，利用霍爾探頭測量該磁場強度。采用本發(fā)明的檢測裝置和檢測方法，可以方便快速進行永磁體的表面磁場強度測量，測量的數(shù)據(jù)與永磁體實際工作狀態(tài)接近。同時測量方便、效率高，準確性好，可以應(yīng)用到批量產(chǎn)品的磁感應(yīng)強度的檢測中。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人安泰科技股份有限公司;
- 發(fā)明人程星華;郭炳麟;
- 地址100081 北京市海淀區(qū)學(xué)院南路76號
- 申請?zhí)?/b>CN201110319149.2
- 申請時間2011年10月19日
- 申請公布號CN102435964A
- 申請公布時間2012年05月02日
- 分類號G01R33/12(2006.01)I;
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