摘要：本發(fā)明涉及一種快速的磁性材料磁特性測量方法，提供一個被測閉磁路磁芯，被測磁芯分別繞設(shè)有激磁繞組和檢測繞組，激磁繞組與電容和電阻串聯(lián)形成閉合回路；激磁繞組上通有直流電流，電容上施加直流電壓，被測閉磁路磁芯、電容和電阻滿足衰減振蕩的電路條件，通過測量激磁繞組的電流變化過程和檢測繞組的電壓變化過程得到磁芯在直流電流下的直流磁場強度對應(yīng)的直流磁通密度、一簇不同磁通密度下的交流磁滯回線以及不同磁通密度下的磁芯損耗。本發(fā)明所提出的一種快速的磁性材料磁特性測量方法，具有測量周期短，容易獲得深度飽和時的磁性特性曲線的優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人福州大學(xué);
- 發(fā)明人陳慶彬;陳超;陳為;
- 地址350108 福建省福州市閩侯縣上街鎮(zhèn)大學(xué)城學(xué)園路2號福州大學(xué)新區(qū)
- 申請?zhí)?/b>CN201610571488.2
- 申請時間2016年07月20日
- 申請公布號CN105929347A
- 申請公布時間2016年09月07日
- 分類號G01R33/12(2006.01)I;
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