摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種基于IEEE1149.4的模擬電壓監(jiān)測(cè)方法，包括：將符合IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)的芯片按照電路板設(shè)計(jì)的邊界掃描鏈路構(gòu)建方式接入電路板的邊界掃描鏈；將電路板中的檢測(cè)點(diǎn)電壓信號(hào)連接到所述芯片上具有模擬邊界模塊ABM的引腳上；將芯片的功能引腳AT2連接到邊緣連接器的輸出端口；電壓監(jiān)測(cè)時(shí)，設(shè)置所述芯片中當(dāng)前檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的ABM處于P1模式，即引腳狀態(tài)由AB2總線監(jiān)測(cè)，其他ABM處于P0模式；設(shè)置測(cè)試總線接口電路TBIC處于P1或P3模式，即將AB2總線連接到AT2上；通過(guò)AT2引腳觀測(cè)檢測(cè)點(diǎn)電壓。使用本發(fā)明能夠在不增加過(guò)多連線和器件的情況下，實(shí)現(xiàn)較多測(cè)試點(diǎn)的模擬電壓檢測(cè)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京航天測(cè)控技術(shù)開(kāi)發(fā)公司;
- 發(fā)明人杜影;徐鵬程;王石記;安佰岳;
- 地址100041 北京市石景山區(qū)實(shí)興東街3號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201010620842.9
- 申請(qǐng)時(shí)間2010年12月24日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN102129024A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2011年07月20日
- 分類號(hào)G01R31/28(2006.01)I;G01R31/3185(2006.01)I;
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