摘要：本發(fā)明公開了一種基于IEEE1149.4的模擬電壓監(jiān)測方法，包括：將符合IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)的芯片按照電路板設(shè)計(jì)的邊界掃描鏈路構(gòu)建方式接入電路板的邊界掃描鏈；將電路板中的檢測點(diǎn)電壓信號連接到所述芯片上具有模擬邊界模塊ABM的引腳上；將芯片的功能引腳AT2連接到邊緣連接器的輸出端口；電壓監(jiān)測時(shí)，設(shè)置所述芯片中當(dāng)前檢測點(diǎn)對應(yīng)的ABM處于P1模式，即引腳狀態(tài)由AB2總線監(jiān)測，其他ABM處于P0模式；設(shè)置測試總線接口電路TBIC處于P1或P3模式，即將AB2總線連接到AT2上；通過AT2引腳觀測檢測點(diǎn)電壓。使用本發(fā)明能夠在不增加過多連線和器件的情況下，實(shí)現(xiàn)較多測試點(diǎn)的模擬電壓檢測。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京航天測控技術(shù)開發(fā)公司;
- 發(fā)明人杜影;徐鵬程;王石記;安佰岳;
- 地址100041 北京市石景山區(qū)實(shí)興東街3號
- 申請?zhí)?/b>CN201010620842.9
- 申請時(shí)間2010年12月24日
- 申請公布號CN102129024A
- 申請公布時(shí)間2011年07月20日
- 分類號G01R31/28(2006.01)I;G01R31/3185(2006.01)I;
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