摘要：一種電路布局的短路檢測方法及電路布局的短路檢測裝置。該電路布局的短路檢測方法包括：獲得一電路布局，其中該電路布局包括多個元件；從該些元件中搜尋該電路布局上的至少一實(shí)體短路元件；調(diào)整該至少一實(shí)體短路元件，以使該至少一實(shí)體短路元件成為斷路狀態(tài)；檢查該電路布局是否發(fā)生短路；以及將該至少一實(shí)體短路元件回復(fù)為在被調(diào)整之前的該至少一實(shí)體短路元件。藉此，本發(fā)明可精確的檢測出電路布局中需要修正的短路錯誤。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人緯創(chuàng)資通股份有限公司;
- 發(fā)明人吳琳健;詹榮明;
- 地址中國臺灣新北市汐止區(qū)新臺五路一段88號21樓
- 申請?zhí)?/b>CN201210172076.3
- 申請時(shí)間2012年05月29日
- 申請公布號CN103454570B
- 申請公布時(shí)間2016年05月18日
- 分類號G01R31/28(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I;
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