摘要：本發(fā)明公開一種觸控測試夾具及使用觸控測試夾具的方法。該觸控測試夾具適用于對一觸控面板進(jìn)行測試作業(yè)，該觸控測試夾具包括：一控制系統(tǒng)、多個承載組件以及多個觸碰組件；該多個承載組件分別聯(lián)接于該控制系統(tǒng)；其中每一該等承載組件的一第一側(cè)分別連接每一該等觸碰組件，該等觸碰組件配置用于接觸該觸控面板。當(dāng)該等承載組件受該控制系統(tǒng)驅(qū)動時，該等觸碰組件相對于該觸控面板移動。本發(fā)明可完成多種特定功能測試，且可避免觸控面板因受壓不均而損壞。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人緯創(chuàng)資通股份有限公司;緯創(chuàng)資通（昆山）有限公司;
- 發(fā)明人侯建武;張守倫;
- 地址中國臺灣新北市汐止區(qū)新臺五路一段88號21樓
- 申請?zhí)?/b>CN201310009393.8
- 申請時間2013年01月10日
- 申請公布號CN103926425B
- 申請公布時間2017年01月04日
- 分類號G01R1/04(2006.01)I;
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