摘要：一種電路板自動(dòng)測(cè)試裝置及電路板自動(dòng)測(cè)試方法。該電路板自動(dòng)測(cè)試裝置包括：承載平臺(tái)以及裝置本體；承載平臺(tái)包括至少一感測(cè)件且結(jié)合裝置本體，承載平臺(tái)可相對(duì)于裝置本體移動(dòng)至測(cè)試位置或待機(jī)位置；裝置本體包括：主控模塊、輸入/輸出連接模塊以及探針測(cè)試模塊；輸入/輸出連接模塊用以固定至少一輸入/輸出連接接口并可相對(duì)于測(cè)試位置的承載平臺(tái)移動(dòng)；探針測(cè)試模塊包括至少一探針并可相對(duì)于測(cè)試位置的承載平臺(tái)移動(dòng)；其中檢測(cè)電路板已正確放置后，主控模塊控制承載平臺(tái)自待機(jī)位置移動(dòng)至測(cè)試位置；并在控制輸入/輸出連接模塊與探針測(cè)試模塊電性連接電路板后，供電至電路板以執(zhí)行測(cè)試作業(yè)。本發(fā)明能大幅節(jié)省測(cè)試成本，提高測(cè)試的穩(wěn)定性及精確度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人緯創(chuàng)資通股份有限公司;緯創(chuàng)資通（昆山）有限公司;
- 發(fā)明人王震;劉健;翟慧慧;張永全;廖兵;王彬;
- 地址中國(guó)臺(tái)灣新北市汐止區(qū)新臺(tái)五路一段88號(hào)21樓
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201210435406.3
- 申請(qǐng)時(shí)間2012年11月02日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN103792481B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年08月03日
- 分類號(hào)G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I;
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