摘要：本發(fā)明公開了一種電容測(cè)量電路的校準(zhǔn)方法，適用于對(duì)采用容抗法的電容測(cè)量電路的校準(zhǔn)，包括：A、記錄若干已知電容對(duì)應(yīng)的AD采集值，分別求各已知電容的AD采集值與基準(zhǔn)電容的AD采集值之間的差值；B、以所述各已知電容值和對(duì)應(yīng)的所述差值構(gòu)建該電容測(cè)量電路的輸入輸出特性方程；C、在實(shí)際環(huán)境中獲取被測(cè)電容和基準(zhǔn)電容的AD采集值，將它們的差值代入輸入輸出特性方程，得到被測(cè)電容值。采用本發(fā)明方法能夠有效減小環(huán)境溫濕度變化帶來(lái)的隨機(jī)電容測(cè)量誤差。本發(fā)明還相應(yīng)公開了一種電容測(cè)量電路的校準(zhǔn)裝置，包括輸入輸出特性方程構(gòu)建模塊和電容實(shí)際測(cè)量模塊。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京航天測(cè)控技術(shù)開發(fā)公司;
- 發(fā)明人蘇建軍;蔄元臣;朱紅;陳斐;郇黎明;
- 地址100041 北京市石景山區(qū)實(shí)興東街3號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201010546870.0
- 申請(qǐng)時(shí)間2010年11月16日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN102096057A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2011年06月15日
- 分類號(hào)G01R35/00(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I;
教育裝備采購(gòu)網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號(hào)
