摘要：本發(fā)明涉及一種光譜分析方法，包括以下步驟：A、建立分析模型：激發(fā)標準樣品，獲得原子光譜信息；從所述光譜信息中選擇分析元素的m條特征譜線，m≥2；根據(jù)上述m條特征譜線對應(yīng)的譜線數(shù)據(jù)及所述分析元素的元素含量/誘導(dǎo)含量，建立分析模型；B、分析未知樣品：按照步驟A的方法獲得未知樣品相應(yīng)分析元素的譜線數(shù)據(jù)，并代入上述分析模型，得到未知樣品相應(yīng)分析元素的含量。本發(fā)明具有分析模型穩(wěn)健、分析準確、重現(xiàn)性好等優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 發(fā)明人吳繼明;張東明;呂全超;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
- 申請?zhí)?/b>CN201010622421.X
- 申請時間2010年12月31日
- 申請公布號CN102103080B
- 申請公布時間2013年09月04日
- 分類號G01N21/62(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I;
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