摘要：本發(fā)明涉及一種光譜分析方法，包括以下步驟：A1、建立分析模型：激發(fā)未知樣品，獲得原子光譜信息；根據(jù)未知樣品的光譜信息，從用于建模的標準樣品中選擇對應于元素的建模標樣，并根據(jù)建模標樣建立元素含量/誘導含量與譜線數(shù)據(jù)之間的分析模型；A2、分析未知樣品含量：將從所述光譜信息中獲取的未知樣品的譜線數(shù)據(jù)，代入上述分析模型，得出未知樣品相應元素的含量。本發(fā)明具有分析準確、回歸誤差小、操作簡便等優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 發(fā)明人呂全超;吳繼明;張東明;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
- 申請?zhí)?/b>CN201010622416.9
- 申請時間2010年12月31日
- 申請公布號CN102103079B
- 申請公布時間2013年12月11日
- 分類號G01N21/62(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I;
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