摘要：本發(fā)明涉及一種提高3D離子阱檢測(cè)效率的方法，具體為：在離子化階段：電子通過(guò)第一電子透鏡，并進(jìn)入所述3D離子阱；在質(zhì)量分析階段：沒(méi)有電子通過(guò)所述第一電子透鏡；3D離子阱出射離子：其中一方向上出射的離子在第一電子透鏡的作用下偏轉(zhuǎn)，之后被檢測(cè)，另一方向上出射的離子也被檢測(cè)。本發(fā)明還公開(kāi)了一種實(shí)現(xiàn)上述方法的裝置。本發(fā)明具有離子檢測(cè)效率高、離子化效率高和結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 發(fā)明人李曉旭;吳文明;鄭毅;劉立鵬;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200910156631.1
- 申請(qǐng)時(shí)間2009年12月29日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN101777483B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2012年03月07日
- 分類號(hào)H01J49/42(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I;
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