摘要：1．本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：探針臺(tái)（L-9MC）。2．本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品用于半導(dǎo)體LED芯片未切割晶圓和已切割晶圓的測(cè)試，主要用于測(cè)試毫瓦和微燭光等類型的光源。3．本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：在于產(chǎn)品形狀。4．最能表明本外觀設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：主視圖。
- 專利類型外觀專利
- 申請(qǐng)人深圳市矽電半導(dǎo)體設(shè)備有限公司;
- 發(fā)明人沈杰;王勝利;
- 地址518000 廣東省深圳市龍崗中心城清林西路龍城工業(yè)園E棟創(chuàng)業(yè)大廈二層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201430280749.7
- 申請(qǐng)時(shí)間2014年08月08日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN303133125S
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年03月18日
- 分類號(hào)10-05(9);
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