摘要：1．本外觀設計產品的名稱：半自動快速探針臺（PT-301II）。2．本外觀設計產品的用途：本外觀設計產品用于6英寸半導體晶圓IC芯片的單芯多層級測試。3．本外觀設計產品的設計要點：在于產品形狀。4．最能表明本外觀設計設計要點的圖片或照片：主視圖。
- 專利類型外觀專利
- 申請人深圳市矽電半導體設備有限公司;
- 發(fā)明人楊應俊;沈杰;楊波;
- 地址518000 廣東省深圳市龍崗中心城清林西路龍城工業(yè)園E棟創(chuàng)業(yè)大廈二層
- 申請?zhí)?/b>CN201430280420.0
- 申請時間2014年08月08日
- 申請公布號CN303133120S
- 申請公布時間2015年03月18日
- 分類號10-05(9);
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