摘要：1．本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：高溫測(cè)試平臺(tái)。2．本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：為材料在高溫狀態(tài)下進(jìn)行電子性能測(cè)量提供溫度控制和高溫環(huán)境。3．本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：本產(chǎn)品的形狀。4．最能表明本外觀設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：主視圖。5．本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的右視圖與左視圖對(duì)稱，仰視圖不是常見面且無設(shè)計(jì)要點(diǎn)，故省略右視圖與仰視圖。
- 專利類型外觀專利
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- 發(fā)明人郭建斌;
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- 申請(qǐng)時(shí)間2013年03月29日
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- 申請(qǐng)公布時(shí)間2013年08月28日
- 分類號(hào)10-05;
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