摘要：本實用新型涉及一種微弱光檢測儀的暗室，其結(jié)構(gòu)包括樣品轉(zhuǎn)盤(1)、軸承套(2)、暗室底盤(3)、螺栓套(4)、支架(5)、軸(6)、暗室蓋(7)、電機(jī)(8)、支柱(9)，其中，暗室蓋(7)與暗室底盤(3)扣合在一起形成暗室，樣品轉(zhuǎn)盤(1)被密封在所述暗室內(nèi)。本實用新型的暗室結(jié)構(gòu)降低了外殼加工的難度，有效地屏蔽了儀器內(nèi)部某些器件發(fā)光的影響，保證了儀器本底值的正常。
- 專利類型實用新型
- 申請人北京濱松光子技術(shù)股份有限公司;
- 發(fā)明人譚永紅;申玲;
- 地址100070 北京市豐臺區(qū)南四環(huán)西路188號總部基地11區(qū)18號樓
- 申請?zhí)?/b>CN201320023428.9
- 申請時間2013年01月05日
- 申請公布號CN203100894U
- 申請公布時間2013年07月31日
- 分類號G01J1/02(2006.01)I;
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