摘要：本實(shí)用新型公開了一種低雜散光單色儀，其特征在于入射狹縫所在平面與入射光軸傾斜相交，出射狹縫所在平面與出射光軸傾斜相交。通過這種方式，原本會(huì)引起雜散光的非期望光路的光線被入射狹縫或出射狹縫反射到期望光路以外，從而大幅減少雜散光。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人杭州遠(yuǎn)方光電信息股份有限公司;
- 發(fā)明人潘建根;
- 地址310053 浙江省杭州市濱江區(qū)濱康路669號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201020271606.6
- 申請(qǐng)時(shí)間2010年07月26日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN201795859U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2011年04月13日
- 分類號(hào)G01J3/12(2006.01)I;G01J3/18(2006.01)I;
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