摘要：本發(fā)明公開了一種低雜散光快速光譜儀及其測量方法，光譜儀包括光信號采集機(jī)構(gòu)和光學(xué)平臺，其特征在于光學(xué)平臺內(nèi)包括帶通色輪，帶通色輪上設(shè)置一組帶通濾色片和通孔，入射光線經(jīng)帶通濾色片或通孔后在到達(dá)色散元件進(jìn)行分光并最后被陣列探測器接收。通過帶通色輪轉(zhuǎn)動，入射光束逐個掃描帶通濾色片，逐段精測被測樣品的光譜儀相應(yīng)響應(yīng)函數(shù)。測量具有相類似光譜特征的同類樣品時，先逐段精測和經(jīng)過通孔全譜快測典型樣品，利用兩次測量結(jié)果計算出雜散光修正因子，對同類樣品全譜快測并用雜散光修正因子修正就可實現(xiàn)快速精測。本發(fā)明有效地降低了快速光譜儀的測量雜散光，可快速精確地測量具有相類似光譜特征的一類樣品的光譜曲線和相關(guān)的光色參數(shù)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人杭州遠(yuǎn)方光電信息股份有限公司;
- 發(fā)明人潘建根;李倩;
- 地址310053 浙江省杭州市濱江區(qū)濱康路669號
- 申請?zhí)?/b>CN200710069325.5
- 申請時間2007年06月15日
- 申請公布號CN101324468B
- 申請公布時間2011年08月10日
- 分類號G01J3/12(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I;
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