摘要：本實用新型公開了一種光學(xué)相位延遲精密測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括激光器、起偏器、光調(diào)制器、調(diào)制信號源、待測相位延遲器、相位補償器、檢偏器、光探測器、結(jié)果輸出單元，本實用新型通過在光路中加入光調(diào)制器對檢測偏振光進(jìn)行光調(diào)制，產(chǎn)生調(diào)制偏振光，結(jié)果顯示單元對接收信號濾波處理后實現(xiàn)將直流零點的測量轉(zhuǎn)換交流零點的測量，從而準(zhǔn)確判斷極值點位置，提高了測量精度。本實用新型測量簡單方便，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，精度可達(dá)到λ/300，適用于波片等光學(xué)延遲器件的生產(chǎn)和銷售部門對產(chǎn)品的檢驗。
- 專利類型實用新型
- 申請人大恒新紀(jì)元科技股份有限公司北京光電技術(shù)研究所;
- 發(fā)明人宋菲君;韓永剛;范玲;林海晏;俞蕾;楊曉光;劉玉鳳;
- 地址100085北京市海淀區(qū)上地信息路甲9號3號樓2層
- 申請?zhí)?/b>CN200720190663.X
- 申請時間2007年12月07日
- 申請公布號CN201149541Y
- 申請公布時間2008年11月12日
- 分類號G01M11/02(2006.01);G01J9/00(2006.01);
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