摘要：本發(fā)明公開了一種基于光譜分辨率校正提高光信噪比測量精度的方法，通過測量一定帶寬內(nèi)寬光譜信號的實際功率，以及采用光譜分析儀測量該寬光譜信號在該帶寬內(nèi)的采樣點的功率之和，獲取光譜分析儀的校正分辨率；并用校正分辨率代替光譜分析儀的設(shè)置分辨率，獲取光信噪比，提高其測量精度；本發(fā)明提供的這種基于光譜分辨率校正提高光信噪比測量精度的方法能有效地解決光譜分析儀的設(shè)置分辨率與實際分辨率不同導(dǎo)致光信噪比測量誤差較大的問題；本發(fā)明提供的方法適用于所有光譜分析儀分辨率的校正，也適用于所有基于光譜分析的光信噪比測量方法精度的提高，具有操作及處理方法簡單，且易于實施的優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學(xué);
- 發(fā)明人柯昌劍;尹國;邢晨;崔晟;劉德明;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201610815635.6
- 申請時間2016年09月09日
- 申請公布號CN106533551A
- 申請公布時間2017年03月22日
- 分類號H04B10/079(2013.01)I;
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