摘要：本發(fā)明提供了化驗數(shù)據(jù)質(zhì)量的評估方法，所述評估方法包括以下步驟：(A1)使用光譜分析儀掃描樣品，獲知樣品的光譜si，i為正整數(shù)；通過化驗分析所述樣品，獲知化驗數(shù)據(jù)分析值yi；(A2)將每一個樣品的光譜與化驗數(shù)據(jù)一一對應，獲得光譜數(shù)據(jù)集X＝[s1,s2,…sn]、化驗數(shù)據(jù)集y＝[y1,y2,…yn]；(A3)建立所述光譜數(shù)據(jù)集和化驗數(shù)據(jù)集間的分析模型y＝f(X)；(A4)獲得樣品的光譜si，i＝1,2,…n，n為樣品數(shù)量，并利用所述分析模型y＝f(X)獲得樣品的化驗數(shù)據(jù)計算值![]()
(A5)得出樣品的化驗數(shù)據(jù)計算值![]()
以及該樣品的化驗數(shù)據(jù)分析值yi間的統(tǒng)計學的偏差，該偏差越接近于零，化驗數(shù)據(jù)分析值質(zhì)量越高。本發(fā)明具有省時、可靠等優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人聚光科技（杭州）股份有限公司;
- 發(fā)明人周新奇;慎石磊;肖鑫龍;楊偉偉;韓雙來;俞曉峰;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
- 申請?zhí)?/b>CN201610797122.7
- 申請時間2016年08月31日
- 申請公布號CN106442376A
- 申請公布時間2017年02月22日
- 分類號G01N21/35(2014.01)I;
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