摘要：本發(fā)明公開了一種用于解析離子源進(jìn)樣裝置的舉靶頂靶機(jī)構(gòu)，包括頂靶機(jī)構(gòu)和舉靶機(jī)構(gòu)，舉靶機(jī)構(gòu)具有舉靶平臺，舉靶平臺在進(jìn)靶過程中向上托舉且在退靶過程中向下回退，頂靶機(jī)構(gòu)具有頂靶部件，頂靶部件在進(jìn)靶過程中向上頂且在退靶過程中向下回退，舉靶機(jī)構(gòu)具有定位桿，頂靶機(jī)構(gòu)具有滑動部件，滑動部件滑動安裝在定位桿，頂靶機(jī)構(gòu)固定安裝在安裝在舉靶機(jī)構(gòu)上的托塊上；本發(fā)明提供的舉靶頂靶機(jī)構(gòu)實現(xiàn)了樣品能夠先進(jìn)行一種低真空過度，進(jìn)而再進(jìn)入高真空的過程，具有操作靈活和便捷的優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人江蘇天瑞儀器股份有限公司;
- 發(fā)明人劉召貴;徐鵬登;周立;
- 地址215347 江蘇省蘇州市昆山市玉山鎮(zhèn)中華園西路1888號天瑞產(chǎn)業(yè)園
- 申請?zhí)?/b>CN201610405698.4
- 申請時間2016年06月12日
- 申請公布號CN106066360A
- 申請公布時間2016年11月02日
- 分類號G01N27/64(2006.01)I;
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