摘要：本發(fā)明涉及一種電子元件漏件檢測(cè)方法和系統(tǒng)，其中，所述方法包括如下步驟：對(duì)獲取的電子元件的電路板的模板圖像和測(cè)試圖像分別進(jìn)行邊緣圖像提取，得到第一邊緣圖像和第二邊緣圖像；對(duì)所述第一邊緣圖像和第二邊緣圖像分別進(jìn)行分區(qū)，并對(duì)各個(gè)分區(qū)上的第一邊緣圖像和第二邊緣圖像進(jìn)行特征提取，得到模板圖像的第一特征參數(shù)和測(cè)試圖像的第二特征參數(shù)；根據(jù)第一特征參數(shù)和第二特征參數(shù)計(jì)算所述模板圖像與測(cè)試圖像的相似度值；根據(jù)所述相似度值對(duì)電路板進(jìn)行電子元件漏件檢測(cè)。上述技術(shù)方案，通過有效地提高了電子元件漏件檢測(cè)的準(zhǔn)確率，保證了檢測(cè)后的電路板的質(zhì)量。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人廣州視源電子科技股份有限公司;
- 發(fā)明人林建民;
- 地址510663 廣東省廣州市廣州高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)城科珠路192號(hào)4樓
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201610251817.5
- 申請(qǐng)時(shí)間2016年04月20日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN105957059A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年09月21日
- 分類號(hào)G06T7/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I;
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