摘要：本發(fā)明屬于工程測量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種粗精視場光軸平行性調(diào)整方法，目的是解決現(xiàn)有調(diào)整方法局限性大的問題。該方法包括安裝設(shè)備和粗精視場光軸平行性調(diào)整兩個步驟。本發(fā)明采用通過在不同距離處放置靶屏，在屏上承接兩光軸目標(biāo)點，獲取目標(biāo)點的相對位置關(guān)系，調(diào)整光軸平行性。調(diào)整精度估算，若光軸相對位置在50m至97m調(diào)整過程中偏離不大于10mm，此時調(diào)整誤差為100m范圍內(nèi)20mm，則在1km范圍內(nèi)兩光軸的偏移量能夠控制在200mm，而實驗中靶屏接收面積為500mm，能夠滿足1km距離聚焦瞄準(zhǔn)要求。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京航天計量測試技術(shù)研究所;中國運載火箭技術(shù)研究院;
- 發(fā)明人宋金城;劉柯;鄭明珠;高越;董利軍;繆寅宵;郭雨蓉;
- 地址100076 北京市豐臺區(qū)南大紅門路1號
- 申請?zhí)?/b>CN201410617423.8
- 申請時間2014年11月05日
- 申請公布號CN105630000A
- 申請公布時間2016年06月01日
- 分類號G05D3/00(2006.01)I;
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