摘要：本發(fā)明公開一種基于磁納米粒子的實(shí)時(shí)的非侵入式溫度測量方法，其主要創(chuàng)新在于提出了磁納米粒子在交直流磁場激勵下奇次諧波、偶次諧波幅值加權(quán)和的數(shù)學(xué)模型，并利用二者之比建立磁納米溫度測量模型。同時(shí)施加交流磁場和直流磁場，檢測磁納米粒子的磁化響應(yīng)；提取磁納米粒子各次諧波幅值，分別計(jì)算奇次諧波與偶次諧波的幅值加權(quán)和；利用偶次諧波與奇次諧波幅值加權(quán)和之比求解溫度。從實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)來看，該磁納米實(shí)時(shí)、非侵入式溫度測量方法的溫度誤差小于0.2K。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學(xué);武漢金智維科技有限公司;
- 發(fā)明人劉文中;皮仕強(qiáng);周銘;肖華;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201510755888.4
- 申請時(shí)間2015年11月09日
- 申請公布號CN105433912A
- 申請公布時(shí)間2016年03月30日
- 分類號A61B5/01(2006.01)I;
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