摘要：光電探測器光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)及其測量方法，屬于光學(xué)輻射定標(biāo)測量儀器及方法，解決現(xiàn)有測試系統(tǒng)成本昂貴且難以保證測量精度的問題，以實現(xiàn)光譜響應(yīng)的高精度測量。本發(fā)明的測試系統(tǒng)，包括正弦調(diào)制光源、聚光透鏡、單色儀、濾光片輪、暗箱、電機(jī)驅(qū)動電路，微控制器控制電路、前置放大電路、正弦鎖相放大電路、數(shù)據(jù)采集卡和計算機(jī)，所述正弦調(diào)制光源為正弦調(diào)制的白熾燈、鹵鎢燈或LED光源。本發(fā)明使用正弦調(diào)制光源，采用可編程器件實現(xiàn)正弦鎖相放大的方式，測量并繪制在300～900nm范圍內(nèi)的光電探測器光譜響應(yīng)，實現(xiàn)高精度測量的同時，降低了設(shè)備成本和設(shè)計難度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學(xué);深圳華中科技大學(xué)研究院;
- 發(fā)明人趙茗;汪少鋒;楊振宇;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201510759890.9
- 申請時間2015年11月10日
- 申請公布號CN105258798A
- 申請公布時間2016年01月20日
- 分類號G01J3/28(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I;
教育裝備采購網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號
