摘要：本發(fā)明公開了一種提高磁致伸縮導波檢測靈敏度的裝置，以及利用該裝置提高磁致伸縮導波檢測靈敏度的方法，中心處理器控制信號發(fā)生器產生激勵信號，通過功率放大器輸入激勵傳感器，在待檢測區(qū)域激勵產生超聲導波并沿軸向傳播；經信號增強元件的反射，超聲導波疊加增強后輸入接收傳感器，經信號預處理器輸入到A/D轉換器，轉換成數字信號輸入中心處理器；中心處理器通過對數字信號的分析，得出缺陷在待檢測區(qū)域上的位置。本發(fā)明通過在傳統的磁致伸縮導波的檢測裝置中引入了信號增強元件，實現缺陷多次回波信號幅值增強，達到提高導波檢測靈敏度的目的，同時不需對現有裝置進行復雜的改造，即可實現無盲區(qū)的缺陷檢測。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學;
- 發(fā)明人武新軍;從明;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201510448223.9
- 申請時間2015年07月27日
- 申請公布號CN104990984A
- 申請公布時間2015年10月21日
- 分類號G01N29/22(2006.01)I;G01N29/32(2006.01)I;G01N29/07(2006.01)I;
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