摘要：本發(fā)明公開了一種適用于點型缺陷的磁軛式局部微磁化檢測裝置，該裝置包括磁敏感元件部分，磁感應部分以及磁軛式局部微磁化部分，磁敏感元件部分包括磁敏感元件、引線端、磁引導芯和引導芯套筒，磁引導芯下端采用圓錐形的結構細化檢測區(qū)域，實現(xiàn)點型缺陷的高分辨率檢測；磁感應部分由繞制在引導芯套筒外側的磁感應線圈組成；由引導芯套筒支撐固定的磁軛式局部微磁化部分，包括環(huán)形導磁構件、磁鐵連接件、磁軛式雙磁鐵以及斜向雙導磁構件，該部分將磁場量導入待檢測金屬體內，達到局部微磁化的效果，通過與磁引導芯連接的磁敏感元件或引導芯套筒外的磁感應線圈，傳遞金屬零件表面點型缺陷漏磁場量信號，實現(xiàn)對高精金屬零件表/界面形性的檢測。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學;中國船舶重工集團公司第七〇二研究所;
- 發(fā)明人孫燕華;劉世偉;馮搏;顧民;劉長德;康宜華;陳少波;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201510216385.X
- 申請時間2015年04月29日
- 申請公布號CN104777216A
- 申請公布時間2015年07月15日
- 分類號G01N27/82(2006.01)I;
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