摘要：本發(fā)明是一種由中央處理器和電源模塊、變頻變壓模塊、高壓儲(chǔ)能模塊、脈沖調(diào)制模塊、輸入裝置以及用于顯示電量的顯示終端組成的變頻磁力探傷儀主機(jī)，與探頭連接線、探頭、以及被探傷工件組成完整的探傷回路。電源模塊采用可充電鋰電池，經(jīng)過變頻升壓到280V，由高壓儲(chǔ)能模塊儲(chǔ)能，儲(chǔ)能電流經(jīng)脈沖調(diào)制模塊調(diào)制產(chǎn)生3Hz、10Hz、以及20Hz到25Hz高壓脈沖信號(hào)，驅(qū)動(dòng)探頭在相應(yīng)工作頻率下探傷。本發(fā)明突破了目前磁粉探傷只能探測金屬表面缺陷的局限，彌補(bǔ)了薄鋼板超聲探傷困難的缺點(diǎn)。探傷深度可達(dá)7mm，靈敏度高，對(duì)于表面缺陷，探頭可不接觸工件表面，探傷后不需退磁，探傷速度快、重量輕，體積小、便于攜帶。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京國電電科院檢測科技有限公司;
- 發(fā)明人李偉;劉彬;廉棟;王伶俐;李湘晉;
- 地址102209 北京市昌平區(qū)未來科技城北區(qū)國電新能源技術(shù)研究院309樓9706
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510708037.4
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年10月28日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN105277609A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年01月27日
- 分類號(hào)G01N27/82(2006.01)I;
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