摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種極高分辨率光譜測(cè)量裝置及方法，光譜測(cè)量裝置包括FP干涉儀、SBS濾波器、探測(cè)器、數(shù)據(jù)采集模塊和控制模塊；FP干涉儀的第一輸入端用于連接待測(cè)信號(hào)，F(xiàn)P干涉儀的第二輸入端連接至控制模塊的第一輸出端；SBS濾波器的第一輸入端連接至FP干涉儀的輸出端，所述SBS濾波器的第二輸入端連接至控制模塊的第二輸出端，探測(cè)器的輸入端連接至SBS濾波器的第一輸出端，數(shù)據(jù)采集模塊的第一輸入端連接至探測(cè)器的輸出端，數(shù)據(jù)采集模塊的第二輸入端連接至SBS濾波器的第二輸出端，控制模塊的輸入輸出端連接至數(shù)據(jù)采集模塊的輸出輸入端。本發(fā)明可以提高光譜測(cè)量分辨率的同時(shí)獲得比現(xiàn)有FP干涉儀更大的測(cè)量范圍。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人華中科技大學(xué);
- 發(fā)明人柯昌劍;譚芷瑩;羅志祥;劉德明;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510107118.9
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年03月11日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN104697634B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2017年03月15日
- 分類號(hào)G01J3/45(2006.01)I;
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