摘要：一種介質(zhì)材料介電性能測試方法，包括：將上部同軸傳輸線和下部同軸傳輸線連接至矢量網(wǎng)絡分析儀；使得上圓柱形諧振腔體和下圓柱形諧振腔體相對對齊接觸；在圓柱形諧振腔體中激發(fā)TE0np諧振模式，使得上圓柱形諧振腔體和下圓柱形諧振腔體中諧振峰的插入損耗最低，測量空腔諧振頻率和品質(zhì)因數(shù)；在上部條狀導體凸緣與下部條狀導體凸緣之間布置待測介質(zhì)基片；在圓柱形諧振腔體中激發(fā)TE0np諧振模式，調(diào)節(jié)耦合環(huán)使得上圓柱形諧振腔體和下圓柱形諧振腔體中諧振峰的插入損耗最低，測量待測介質(zhì)基片的相對介電常數(shù)的預估值；根據(jù)空腔諧振頻率和品質(zhì)因數(shù)、相對介電常數(shù)的預估值、介質(zhì)基片的尺寸，計算待測介質(zhì)基片的介質(zhì)材料的介電性能參數(shù)值。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人無錫江南計算技術研究所;
- 發(fā)明人賈燕;張永華;鄔寧彪;陳文錄;李小明;石小傳;劉立國;李建榮;
- 地址214083 江蘇省無錫市濱湖區(qū)軍東新村030號
- 申請?zhí)?/b>CN201510048059.2
- 申請時間2015年01月29日
- 申請公布號CN104569618A
- 申請公布時間2015年04月29日
- 分類號G01R27/26(2006.01)I;
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