摘要：本發(fā)明提供了一種內(nèi)封測量光纖的超導帶材，包括上保護層、下保護層、超導帶層以及測量光纖，所述超導帶層和測量光纖封裝在上保護層和下保護層之間，所述測量光纖沿長度方向設置。所述測量光纖采用若干長光纖連續(xù)地封裝在上保護層和下保護層之間，或，多根短光纖間斷地封裝在上保護層和下保護層之間。同時還提供了上述超導帶材的制備方法和制備裝置，本發(fā)明可以對超導線圈內(nèi)部所有位置的溫度進行實時測量，無論局部失超的發(fā)生在何處，都可以及時發(fā)現(xiàn)；大大簡化了超導線圈的繞制工藝，提高線圈了緊密性和光滑性，這對那些對磁場均勻度要求很高的高性能磁體意義非凡，極大地提高設備性能。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人上海超導科技股份有限公司;
- 發(fā)明人洪智勇;王亞偉;
- 地址201210 上海市虹口區(qū)芳春路400號1幢3層301-15室
- 申請?zhí)?/b>CN201410375117.8
- 申請時間2014年07月31日
- 申請公布號CN104157366A
- 申請公布時間2014年11月19日
- 分類號H01B12/00(2006.01)I;G01K11/32(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I;
教育裝備采購網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號
