摘要：本發(fā)明提供了一種用于高溫超導(dǎo)帶材力學(xué)性能測試的裝置，其包括四引線控制裝置(1)、帶材臨界電流測試架(2)、帶材轉(zhuǎn)彎半徑測試架(3)、帶材拉伸應(yīng)力測試架(4)。本發(fā)明優(yōu)點(diǎn)在于：1、通過本發(fā)明裝置可以完成帶材短樣幾乎所有的電學(xué)和力學(xué)性能的精準(zhǔn)測量，包括轉(zhuǎn)彎半徑、拉伸應(yīng)力、脫層應(yīng)力等，功能齊全，使用方便；2、設(shè)備設(shè)計(jì)完整，實(shí)用較為人性化，人可以坐在臺面上進(jìn)行焊接，測試等過程，整個(gè)過程較為輕松。3、桌面上安裝的方孔板可以收納各種測試樣品架，螺絲，工具等，方便實(shí)用；4、測試樣品架皆能合理有效的支撐樣品的測量。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人上海超導(dǎo)科技股份有限公司;
- 發(fā)明人朱佳敏;陳思侃;王禹程;王龍彪;成敏;甄水亮;
- 地址201210 上海市浦東新區(qū)芳春路400號1幢3層301-15室
- 申請?zhí)?/b>CN201510316163.5
- 申請時(shí)間2015年06月10日
- 申請公布號CN104965113A
- 申請公布時(shí)間2015年10月07日
- 分類號G01R19/00(2006.01)I;G01N19/00(2006.01)I;
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