摘要：發(fā)明涉及幾何計量測試技術領域，具體公開了一種高分辨力雙軸自準直儀。該系統(tǒng)中反光鏡對物鏡后組的水平光線反射，射入分光棱鏡B及分光棱鏡A，并在分光棱鏡A的垂直光線通路上設有水平準直分劃板、水平聚光鏡及水平LED光源，分光棱鏡A反射的水平光線通路上設有顯微物鏡B和垂直安裝的第二線陣CCD；分光棱鏡B反射的水平光線通路上設有分光棱鏡C、顯微物鏡A以及水平安裝的第一線陣CCD，且在分光棱鏡C垂直水平面的反射光線通路上依次安裝有垂直準直分劃板、垂直聚光鏡以及垂直LED光源。該系統(tǒng)采用物鏡前組和物鏡后組，減小準直光路長度，使準直光路的長度小于物鏡焦距；同時，采用折疊光路的反射鏡，使光學系統(tǒng)的長度尺寸不增加，僅增加寬度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院;
- 發(fā)明人王震;張俊杰;張忠武;李永剛;孫方金;
- 地址100076 北京市豐臺區(qū)大紅門路1號
- 申請?zhí)?/b>CN201210311121.9
- 申請時間2012年08月28日
- 申請公布號CN103630090A
- 申請公布時間2014年03月12日
- 分類號G01B11/26(2006.01)I;
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