摘要：本發(fā)明公開了一種折射率測量裝置，包括：單色角點光源照明模塊，用于產(chǎn)生進行測量的兩束光束；參考光路模塊，其中一束作為參考光入射到該參考光路模塊中，經(jīng)全反射后出射帶有原始光場信息的參考信息光；探測模塊，其與待測物接觸形成介質(zhì)面，另一束光束作為探測光入射到探測模塊并經(jīng)介質(zhì)面反射后出射耦合有待測物質(zhì)折射率信息的探測信息光；反射光能量收集模塊，分別接收參考信息光和探測信息光，并轉(zhuǎn)換為電信號；以及圖像處理模塊，其對兩路圖像進行比較，得到相對反射率分布，可提取出待測物質(zhì)的折射率信息。本發(fā)明還公開了一種折射率測量方法。本發(fā)明的裝置和方法具有測量范圍大、可普遍適用于氣體、液體以及玻璃材料等物質(zhì)的折射率測量。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學;
- 發(fā)明人楊克成;葉駿偉;夏珉;李微;郭文平;劉昊;阮叢喆;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201310375467.X
- 申請時間2013年08月26日
- 申請公布號CN103454247B
- 申請公布時間2016年05月25日
- 分類號G01N21/43(2006.01)I;
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