摘要：本發(fā)明公開了一種數(shù)字全息干涉和變頻率投影條紋復(fù)合測量系統(tǒng)及方法，屬于光電測量技術(shù)領(lǐng)域，包括一套連續(xù)變角度數(shù)字全息干涉測量裝置或變波長數(shù)字全息干涉和一套多步變頻率投影條紋測量裝置，先利用多步變頻率投影條紋測量法對待測物體進(jìn)行粗測，得到大致的高度范圍，再利用連續(xù)變角度數(shù)字全息干涉測量裝置或變波長數(shù)字全息干涉對待測物體進(jìn)行精測，就可以得到物體各點(diǎn)的高度信息，本發(fā)明在測量過程中對待物體各點(diǎn)單獨(dú)測量，無需相位去包裹的步驟，能夠測量形狀復(fù)雜的、有間斷的物體的面型參數(shù)，和單獨(dú)的多步變頻率投影條紋測量及連續(xù)變角度數(shù)字全息干涉或變波長數(shù)字全息干涉相比，優(yōu)點(diǎn)是可以同時(shí)達(dá)到測量精度高和測量高度變化范圍大的要求。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人西安交通大學(xué);陜西恒通智能機(jī)器有限公司;
- 發(fā)明人賈書海;許勇;鮑慶臣;
- 地址710049 陜西省西安市咸寧西路28號
- 申請?zhí)?/b>CN201310291898.8
- 申請時(shí)間2013年07月11日
- 申請公布號CN103376072B
- 申請公布時(shí)間2016年03月30日
- 分類號G01B11/25(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I;
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