摘要：本發(fā)明公開了一種雪崩光電二極管（Avalanche?Photo?Diode，APD）過剩噪聲因子測(cè)量系統(tǒng)，涉及半導(dǎo)體光電子器件的測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。本系統(tǒng)包括：光源、光耦合組件以及檢測(cè)單元；所述檢測(cè)單元包括：芯片測(cè)試工裝夾具、偏置器、數(shù)字源表、放大器、噪聲功率測(cè)試設(shè)備；光源通過光耦合組件照射在待測(cè)APD樣品上，樣品APD通過測(cè)試探針夾具與偏置器相連，數(shù)字源表與偏置器直流端口相連，偏置器交流端口連接放大器輸入端，噪聲功率測(cè)試設(shè)備連接放大器輸出端。本發(fā)明通過同步測(cè)量APD噪聲功率以及增益，實(shí)時(shí)，快速，精確的得出APD的過剩噪聲因子。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人華中科技大學(xué);
- 發(fā)明人趙彥立;李奕鍵;涂俊杰;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201310021677.9
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年01月21日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN103091568B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年01月06日
- 分類號(hào)G01R29/26(2006.01)I;
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