摘要：本發(fā)明提供了一種檢測方法，包括以下步驟：(A1)建立數(shù)據(jù)庫，數(shù)據(jù)庫涵蓋待測對象的特征峰所處波長區(qū)間內可能存在的干擾對象及其特征峰波長、可識別的特征峰波長；(A2)獲得各對象的譜圖；(A3)搜尋待測對象的特征峰所處波長區(qū)間內可能存在的干擾對象及其可識別的特征峰的波長；(A4)在所述譜圖中搜尋所述可識別的特征峰：若尋獲，表明波長區(qū)間內存在干擾對象的特征峰；若沒有尋獲，表明所述波長區(qū)間內不存在干擾對象的特征峰；從而識別出在譜圖的所述波長區(qū)間內對待測對象的特征峰構成影響的干擾對象及其特征峰；(A5)根據(jù)所述波長區(qū)間內的譜圖以及識別出的干擾對象的特征峰，獲得在所述波長區(qū)間內排除干擾對象影響的待測對象的特征峰，進而獲知樣品中待測對象的含量。本發(fā)明具有自動化程度高、測量時間短等優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 發(fā)明人俞曉峰;呂全超;陳文益;顧海濤;陳莉;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
- 申請?zhí)?/b>CN201110461623.5
- 申請時間2011年12月31日
- 申請公布號CN102564965A
- 申請公布時間2012年07月11日
- 分類號G01N21/25(2006.01)I;
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