摘要：本發(fā)明提供了用于濾除氣態(tài)流體中汞的濾膜，在所述濾膜的橫向或縱向具有第一類膜和第二類膜；所述第一類膜用于濾除所述氣態(tài)流體中的第一類汞；所述第二類膜用于濾除所述氣態(tài)流體中的第二類汞。本發(fā)明還提供了一種應(yīng)用上述濾膜的氣態(tài)流體中汞的監(jiān)測系統(tǒng)及方法。本發(fā)明具有檢測快速、環(huán)保、同時監(jiān)測多狀態(tài)汞等優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人聚光科技(杭州)股份有限公司;杭州聚光環(huán)?？萍加邢薰?
- 發(fā)明人葉華俊;郭生良;孫敬文;翁興彪;姜雪嬌;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
- 申請?zhí)?/b>CN201010622392.7
- 申請時間2010年12月31日
- 申請公布號CN102091490B
- 申請公布時間2013年06月05日
- 分類號B01D46/54(2006.01)I;B01D46/42(2006.01)I;B01D53/22(2006.01)I;
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