PCIe測(cè)試平臺(tái)

　　摘要：本發(fā)明提供了一種PCIe測(cè)試平臺(tái)，包括：第一主機(jī)；第二主機(jī)；測(cè)試板，所述測(cè)試板包括位于所述測(cè)試板上的PCIe插座，與PCIe插座相連的PCIe交換單元，與PCIe交換單元相連的PCIe插槽和PCIe連接器，所述測(cè)試板上的PCIe插座和第一主機(jī)以及第二主機(jī)相連。本發(fā)明可以連接更多的待檢測(cè)設(shè)備，因此可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)更多的待檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)，提高了測(cè)試平臺(tái)的利用率，并且可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的測(cè)試。

專利類型發(fā)明專利
申請(qǐng)人無錫江南計(jì)算技術(shù)研究所;
發(fā)明人黃永勤;陳暉;喻尊河;李湛;劉紅云;祝亞斌;鐘蔚杰;
地址214083 江蘇省無錫市濱湖區(qū)軍東新村030號(hào)
申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200910196996.7

申請(qǐng)時(shí)間2009年10月13日

申請(qǐng)公布號(hào)CN102043748B

申請(qǐng)公布時(shí)間2012年10月31日

分類號(hào)G06F13/40(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;

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