所有產(chǎn)品
產(chǎn)品總數(shù)：1583
手持式分析儀LPZ
簡(jiǎn)介:LPZ/C手持式分析儀此款分析儀具備對(duì)各組成部分進(jìn)行快速圖像瀏覽和快照，以及激光定位和聚焦分析；且所有的功能都可由世界的手持XRF測(cè)試分析儀完成。1.掌上電腦顯示測(cè)試區(qū)域顏色圖像，并且將圖像和測(cè)試結(jié)果、光譜一同存儲(chǔ)；2.直徑為3毫米的聚焦器將提供精確區(qū)域分析；3.大區(qū)域（約1...
￥3890
可攜帶臺(tái)式分析檢測(cè)儀Innov-X X-50
簡(jiǎn)介:XRF的革命延續(xù)到了早期的制造商針對(duì)現(xiàn)場(chǎng)XRF分析的便攜式的XRF：X-50移動(dòng)式XRF。X-50獨(dú)特的輕便設(shè)計(jì)可以滿足迅速增長(zhǎng)的對(duì)于臺(tái)式機(jī)分析能力的需要，X-50移動(dòng)式XRF提供了在小型XRF手持式XRF不可能擁有的大功率和高性能。在達(dá)25次的手持式XRF測(cè)試中，作為一種技術(shù)等級(jí)的XRF，X-50達(dá)到了...
￥9870
Lab-X3500SCl(X射線熒光光譜儀)
簡(jiǎn)介:Lab-X3500SCl利用新技術(shù)測(cè)量油品中的硫下限低至3ppm(mg/kg)，主要特點(diǎn)有：容易檢測(cè)低含量硫、氯出廠前校準(zhǔn)，用戶使用前無(wú)需再校準(zhǔn)無(wú)需氦氣安裝簡(jiǎn)單，只需系統(tǒng)供電操作不受周圍環(huán)境變化影響樣品溫度不會(huì)影響檢測(cè)結(jié)果Lab-X3500SCl符合下列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格：ISO20847,ISO8754,ASTMD4294和IP3...
￥380
Lab-X3500SCl(X射線熒光光譜儀)
簡(jiǎn)介:Lab-X3500SCl利用新技術(shù)測(cè)量油品中的硫下限低至3ppm(mg/kg)，主要特點(diǎn)有：容易檢測(cè)低含量硫、氯出廠前校準(zhǔn)，用戶使用前無(wú)需再校準(zhǔn)無(wú)需氦氣安裝簡(jiǎn)單，只需系統(tǒng)供電操作不受周圍環(huán)境變化影響樣品溫度不會(huì)影響檢測(cè)結(jié)果Lab-X3500SCl符合下列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格：ISO20847,ISO8754,ASTMD4294和IP3...
￥380
Twin-X(X射線熒光光譜儀)
簡(jiǎn)介:Twin-X結(jié)合了兩種已獲得廣泛應(yīng)同的牛津探測(cè)器技術(shù)：FOCUS5+探測(cè)系統(tǒng)和PIN探測(cè)器技術(shù)。其輕便緊湊的一體化設(shè)計(jì)和空前的多用途與高性能，使其榮獲IBO(InstrumentBusinessOutlook)工業(yè)設(shè)計(jì)獎(jiǎng)。兩種探測(cè)器技術(shù)的組合可以達(dá)到對(duì)元素周期表種中不同位置的元素更全面的檢測(cè)。其中FOCUS5+技...
￥380
X熒光鍍層測(cè)厚及痕量元素分析儀X-Strata980
簡(jiǎn)介:X-Strata980結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測(cè)器確保的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率極高，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測(cè)結(jié)果可精確到ppm級(jí)，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保...
￥380
RoHS分析儀X-MET3000TXR+
簡(jiǎn)介:牛津儀器發(fā)布了新型號(hào)的X-Met3000TXR+手持式XRF光譜儀采用X射線管作為激發(fā)源；輕便、快捷；可實(shí)現(xiàn)快速、可靠的RoHS條例篩選分析；專門為測(cè)量塑料、焊料和印刷線路板中的重金屬含量而設(shè)計(jì)。牛津儀器的手持式X-Met3000TXR+是一款使用方便、安全可靠的無(wú)損分析工具，針對(duì)RoHS條例對(duì)塑...
￥3890
手持式X射線XRF元素分析儀熒光光譜儀X-MET5000
簡(jiǎn)介:新款手持式X射線熒光光譜儀，可滿足各種苛刻的元素分析要求。牛津儀器宣布推出一款堅(jiān)固的手持式X射線熒光光譜儀(XRF)，該儀器能夠進(jìn)行高精度、高可靠性的元素分析。牛津儀器的手持式X射線熒光光譜儀譽(yù)滿，X-MET5000是其第四代產(chǎn)品。這款全新的光譜儀擁有高性能和高可靠性，它綜合了...
￥380
X射線熒光光譜儀Lab-X3500
簡(jiǎn)介:Lab-X3000取得巨大成功的基礎(chǔ)上，牛津儀器公司推出型的臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀Lab-X3500。它把牛津儀器多年來(lái)設(shè)計(jì)生產(chǎn)X射線熒光光譜儀的經(jīng)驗(yàn)和的硬件、軟件技術(shù)的進(jìn)展結(jié)合起來(lái)，是一種獨(dú)特的、高性能的多元素臺(tái)式X射線熒光光譜儀。Lab-X3500中采用了牛津獨(dú)特的FOCUS5技術(shù)，實(shí)...
￥380
帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀CMI-165
簡(jiǎn)介:CMI165是一款人性化設(shè)計(jì)、堅(jiān)固耐用的世界帶溫度補(bǔ)償功能的手持式銅箔測(cè)厚儀。-可測(cè)試高溫的PCB銅箔-顯示單位可為mils，m或oz-可用于銅箔的來(lái)料檢驗(yàn)-可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試-可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試-配有SRP-T1，帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭-可用于蝕刻后線路上的...
￥3890
便攜面銅厚度測(cè)試儀CMI563
簡(jiǎn)介:CMI563表面銅厚測(cè)試儀專為測(cè)量剛性或柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。CMI563測(cè)厚儀采用微電阻測(cè)試技術(shù)，提供了準(zhǔn)確和精確測(cè)量表面銅銅厚（包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板）的方法。由于CMI563測(cè)厚儀采用了市場(chǎng)上為先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，印刷電路板背面銅層不會(huì)對(duì)...
￥3890
PCB專用銅厚測(cè)試儀CMI760
簡(jiǎn)介:CMI760測(cè)厚儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。CMI760測(cè)厚儀可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI760臺(tái)式測(cè)厚儀具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)...
￥3890
X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900
簡(jiǎn)介:CMI900鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：精度高、穩(wěn)定性好強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能測(cè)量范圍寬NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片服務(wù)及支持技術(shù)參數(shù)主要規(guī)格規(guī)格描述X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)75W(4-...
￥3890
X熒光鍍層測(cè)厚儀X-Strata960
簡(jiǎn)介:X-Strata960測(cè)厚儀基于25年涂鍍層測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，在CMI900系列測(cè)厚儀的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)上，引進(jìn)全新的設(shè)計(jì)：新100瓦X射線管-市場(chǎng)上所能提供的強(qiáng)大的X射線管。提高30%測(cè)量精度，同時(shí)減少50%測(cè)量時(shí)間更小的X射線光斑尺寸-新增15mil直徑準(zhǔn)直器，可測(cè)量電子器件上更小的部位。提供改進(jìn)的CCD攝像頭及...
￥380
X熒光鍍層測(cè)厚及痕量元素分析儀X-Strata980
簡(jiǎn)介:X-Strata980結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測(cè)器確保的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率極高，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測(cè)結(jié)果可精確到ppm級(jí)，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保...
￥380
OSP鍍層測(cè)厚儀OSPrey800
簡(jiǎn)介:OSPrey800@儀器利用光譜分析原理無(wú)損檢測(cè)OSP鍍層厚度。無(wú)需準(zhǔn)備樣品，可實(shí)時(shí)檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品上的OSP鍍層厚度。OSPrey800@儀器在檢測(cè)過(guò)程中不會(huì)對(duì)PCB/PWB板產(chǎn)生不利影響。通過(guò)進(jìn)行PCB/PWB上OSP鍍層厚度的定量、完整性、可靠性及膜層形態(tài)的細(xì)致分析，進(jìn)而檢驗(yàn)OSP鍍層的應(yīng)用可靠性。檢測(cè)...
￥380
X射線熒光光譜儀Lab-X3500
簡(jiǎn)介:型的臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀Lab-X3500。它把牛津儀器多年來(lái)設(shè)計(jì)生產(chǎn)X射線熒光光譜儀的經(jīng)驗(yàn)和的硬件、軟件技術(shù)的進(jìn)展結(jié)合起來(lái)，是一種獨(dú)特的、高性能的多元素臺(tái)式X射線熒光光譜儀。Lab-X3500中采用了牛津獨(dú)特的FOCUS5技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)目標(biāo)元素的激發(fā)和目標(biāo)元素的選擇性檢測(cè)；因而...
￥380
便攜式涂層測(cè)厚儀CMI-150
簡(jiǎn)介:雙功能技術(shù)的測(cè)厚儀，完成磁感應(yīng)和電渦流測(cè)量自動(dòng)轉(zhuǎn)換CMI150測(cè)厚儀應(yīng)用雙功能測(cè)量技術(shù)，能夠自動(dòng)識(shí)別磁性或非磁性底材，然后采用相應(yīng)的測(cè)試方法，適用于各種測(cè)量環(huán)境。CMI150測(cè)厚儀可測(cè)量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。測(cè)厚儀電渦流測(cè)試方法應(yīng)用包括...
￥380
便攜式涂層測(cè)厚儀CMI-200
簡(jiǎn)介:CMI200涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)：測(cè)厚儀精度高、穩(wěn)定性好強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能232接口，可連接打印機(jī)或電腦可選配90度直角探頭帶有掃描測(cè)量模式測(cè)量范圍寬NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片技術(shù)參數(shù)小測(cè)量面積0～3000m(F)；0～2000m(N)誤差3%分辨率0.1um小曲率半徑5mm(凸)；25mm(凹)小測(cè)量面積20mm小基體...
￥380
臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀CMI-700
簡(jiǎn)介:CMI700測(cè)厚儀能同時(shí)為磁性基材上的非磁性涂/鍍層、導(dǎo)性基材上的非導(dǎo)性涂/鍍層，以及磁性基材上的電鍍鎳層提供高科技的無(wú)損涂鍍層厚度檢測(cè)。CMI700測(cè)厚儀所使用的大型帶背光的液晶顯示器，保證您能從任意角度以及較遠(yuǎn)的距離輕松觀察到這臺(tái)測(cè)厚儀測(cè)量的數(shù)據(jù)和結(jié)果，并能在短的時(shí)間內(nèi)...
￥380