尚豐科技向用戶提供基于電鏡平臺(tái)的掃描透射電子束感應(yīng)電流分析系統(tǒng)STEBIC。
STEBIC擁有更為先進(jìn)的技術(shù)優(yōu)勢(shì)相比普通EBIC
基于更先進(jìn)的薄片技術(shù)，STEBIC擁有更高的空間分辨率
將STEM電鏡和EBIC功能完美結(jié)合，為用戶提供更廣闊的的研究手段
相比電子全息成像系統(tǒng)
無(wú)需預(yù)先設(shè)置真空系統(tǒng)
無(wú)需圖像重建系統(tǒng)
直接解讀圖像信息
相比樣品電流放大器
更高的圖像獲取速度和更短的像素貯存時(shí)間（dwell time）
內(nèi)置IV掃視用偏壓電源
自動(dòng)計(jì)算像素定量
有效提升定量測(cè)量功能
常規(guī)化電子束電流
直接進(jìn)行樣品間的對(duì)比
復(fù)合強(qiáng)度測(cè)量
離散強(qiáng)度測(cè)量
提升偏壓功能
常規(guī)電鏡操作條件下即可成像
確定薄片間電子關(guān)聯(lián)
檢查IV掃視下電子束對(duì)樣品造成的損壞
在相關(guān)聯(lián)的地方，進(jìn)行電子束吸收電阻變化EBIRCh測(cè)量
STEBIC 厚度測(cè)量Si的pn結(jié)， 由FIB制樣
重點(diǎn)觀測(cè)
EBIC/EBAC的信號(hào)重疊
直接關(guān)聯(lián)HAADF
離散強(qiáng)度測(cè)量
應(yīng)用案例
SiGe納米線
尚豐科技致力于引進(jìn)推廣先進(jìn)的材料、生物顯微觀測(cè)及微區(qū)分析儀器，向科研人員高附加值服務(wù)。我們擁有一支涉及眾多領(lǐng)域高素質(zhì)的應(yīng)用支持團(tuán)隊(duì)，為各行業(yè)的應(yīng)用需求提供專業(yè)的解決方案和售后服務(wù)。
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