日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數(shù)與電阻測量系統(tǒng)ZEM系列在銷售量超過300臺，廣獲科研及工業(yè)用戶的贊譽，成為熱電材料領(lǐng)域應用廣泛的測試設備。2019年，在此前的成功基礎(chǔ)上，ADVANCE RIKO公司推出了專門用于評價聚合物厚度方向上熱電性能的全新設備ZEM-d。
與之前ZEM系列產(chǎn)品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型號ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測量的樣品厚度薄為10μm。此外，ZEM-d與采用激光閃光法測量薄膜的熱擴散率/導熱系數(shù)測量方向一致，其測量結(jié)果可廣泛應用于薄膜熱電材料的性能評價。
ZEM-d測量原理
現(xiàn)存測試方法 | ZEM-d（厚度方向測量） |
電阻率測量原理
塞貝克系數(shù)測量原理
ZEM-d技術(shù)參數(shù)
測量參數(shù) 塞貝克系數(shù)，電阻率
溫度范圍 高200℃（樣品表面）
樣品尺寸 截面：Φ20mm（Max），長度：0.01-20mm
測量氛圍 空氣或惰性氣體
軟件界面
測試數(shù)據(jù)
銅合金的塞貝克系數(shù)測量結(jié)果
相關(guān)產(chǎn)品：
塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)-ZEM：http://www.zgdxszj.com/product/2018030736.shtml
激光閃光法熱常數(shù)測量系統(tǒng)：http://www.zgdxszj.com/product/2020030433.shtml
納米薄膜熱導率測試系統(tǒng)：http://www.zgdxszj.com/product/2020033031.shtml
