日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數(shù)與電阻測(cè)量系統(tǒng)ZEM系列在銷售量超過(guò)300臺(tái)，廣獲科研及工業(yè)用戶的贊譽(yù)，成為熱電材料領(lǐng)域應(yīng)用廣泛的測(cè)試設(shè)備。2019年，在此前的成功基礎(chǔ)上，ADVANCE RIKO公司推出了專門(mén)用于評(píng)價(jià)聚合物厚度方向上熱電性能的全新設(shè)備ZEM-d。
與之前ZEM系列產(chǎn)品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型號(hào)ZEM-d主要測(cè)量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測(cè)量的樣品厚度薄為10μm。此外，ZEM-d與采用激光閃光法測(cè)量薄膜的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量方向一致，其測(cè)量結(jié)果可廣泛應(yīng)用于薄膜熱電材料的性能評(píng)價(jià)。
ZEM-d測(cè)量原理
現(xiàn)存測(cè)試方法 | ZEM-d（厚度方向測(cè)量） |
電阻率測(cè)量原理
塞貝克系數(shù)測(cè)量原理
ZEM-d技術(shù)參數(shù)
測(cè)量參數(shù) 塞貝克系數(shù)，電阻率
溫度范圍 高200℃（樣品表面）
樣品尺寸 截面：Φ20mm（Max），長(zhǎng)度：0.01-20mm
測(cè)量氛圍 空氣或惰性氣體
軟件界面
測(cè)試數(shù)據(jù)
銅合金的塞貝克系數(shù)測(cè)量結(jié)果
相關(guān)產(chǎn)品：
塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)-ZEM：http://www.zgdxszj.com/product/2018030736.shtml
激光閃光法熱常數(shù)測(cè)量系統(tǒng)：http://www.zgdxszj.com/product/2020030433.shtml
納米薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)：http://www.zgdxszj.com/product/2020033031.shtml
