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小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360J
簡介:小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360J—滿足日本標(biāo)準(zhǔn)JSMS-SD-14-20X射線是表面殘余應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之一,是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應(yīng)力的,至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測方法之一,被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)...
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