可以在

下測(cè)量固體、薄膜樣品的介電性能;
■可以分析樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測(cè)量功能;
■可以測(cè)量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質(zhì)因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;
■可以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線,時(shí)間和電壓變化的曲線;
■集多種測(cè)量功能于一體高溫測(cè)量平臺(tái),配合高阻表可以測(cè)量高溫電阻和熱激勵(lì)電流(選件);
■符合ASTMD150和 D2149-97國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)也符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法。