美國 RHK Technology 成立于 1981 年。作為 SPM 工業(yè)中的領(lǐng)軍儀器制造商，RHK Technology 始終保持著鮮明的特色：創(chuàng)新性、可靠性、產(chǎn)品設(shè)計的開放性與的客戶支持。
憑借著其優(yōu)異的系統(tǒng)設(shè)計、精良的制造工藝、再加上與科學(xué)家的緊密合作，二十多年來 RHK Technology 源源不斷地向全科學(xué)家們輸送著先進的、高精度的科學(xué)分析儀器。
美國 RHK Technology公司 超高真空變溫掃描探針顯微鏡 系列產(chǎn)品包括：
● UHV STM/AFM系統(tǒng)
● 掃描探針顯微鏡表面分析系統(tǒng)
● 超高真空低溫四探針表面分析系統(tǒng) - UHV LT QuadraProbe
● 超高真空Beetle式變溫變磁場系統(tǒng) - UHV VT VMF STM/AFM
UHV STM/AFM系統(tǒng)
完整的超高真空 AFM/STM 系統(tǒng)，具有掃描速度快，
震動隔離采用氣柱或者彈簧方式，自動化程度高的特點。
UHV STM/AFM子系統(tǒng)
超高真空 STM/AFM 子系統(tǒng)；樣品變溫范圍從小于 25 K 到大于 1500 K；
配有震動隔離系統(tǒng)；原位針尖替換與轉(zhuǎn)移；
易于與其他設(shè)備連接，從而構(gòu)建多腔體 SPM 系統(tǒng)。
掃描探針顯微鏡表面分析系統(tǒng)
此系列的產(chǎn)品結(jié)合了 RHK SPM 與 Specs 生產(chǎn)的表面分析設(shè)備?？梢赃M行多種表面分析操作；操作簡單、實驗結(jié)果。RHK Tech.公司已經(jīng)和Specs公司聯(lián)合起來，為全的科學(xué)家們提供性能優(yōu)異的SPM/表面分析聯(lián)合系統(tǒng)。客戶通過從RHK選擇SPM，從Specs選擇各種表面分析設(shè)備，自行設(shè)計一套表面分析系統(tǒng)。RHK和Specs的工程師們會對該設(shè)備進行優(yōu)化、融合，以達(dá)到操作簡便的目的。RHK公司提供給渥太華大學(xué)的系統(tǒng)包括了：RHK AFM、LEED/Auger、質(zhì)譜儀以及Specs公司的XPS設(shè)備。
超高真空低溫四探針表面分析系統(tǒng) - UHV LT QuadraProbe
QuadraProbe四探針表面分析系統(tǒng)保證了樣品和四個STM探針都在10K下長時間穩(wěn)定工作，每個探針的分辨率都達(dá)到了原子分辨。在四個探針上方配有高分辨的SEM，用于對探針的粗定位與導(dǎo)航。樣品分析室中還選配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司將先進的R9控制器配置到四探針系統(tǒng)中，用戶可以非常方面的實現(xiàn)對四個探針的立控制。
超高真空Beetle式變溫變磁場系統(tǒng) - UHV VT VMF STM/AFM
VMF系列掃描探針顯微鏡系統(tǒng)將變磁場環(huán)境引入到表面科學(xué)研究與實驗中，無需制冷裝置，即可實現(xiàn)0~10000Gauss面內(nèi)連續(xù)可變磁場環(huán)境，在變磁場環(huán)境中，AFM/STM的功能和性能不受任何影響；樣品的變溫范圍從25K~1500K。
