摘要：1．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：電磁輻射分析儀天線（SEM-3006）。2．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計產(chǎn)品主要用作電磁輻射分析儀的天線，以便接收信號。3．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：在于產(chǎn)品的形狀、圖案以及結(jié)合。4．最能表明本外觀設(shè)計設(shè)計要點的圖片或照片：立體圖1。
- 專利類型外觀專利
- 申請人北京森馥科技股份有限公司;
- 發(fā)明人陸德堅;李京超;薛歡;張立垚;
- 地址100020 北京市朝陽區(qū)利澤中二路1號517室
- 申請?zhí)?/b>CN201530362630.9
- 申請時間2015年09月18日
- 申請公布號CN303585419S
- 申請公布時間2016年02月10日
- 分類號14-03(10);
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