摘要:本實(shí)用新型公開了一種電磁輻射監(jiān)測(cè)系統(tǒng),包括電場(chǎng)采集裝置、磁場(chǎng)采集裝置和數(shù)據(jù)處理單元,所述數(shù)據(jù)處理單元包括FPGA芯片,所述電場(chǎng)采集裝置與所述FPGA芯片連接,用于采集環(huán)境中的電場(chǎng)值,所述磁場(chǎng)采集裝置與所述FPGA芯片連接,用于采集環(huán)境中的磁場(chǎng)值,所述FPGA芯片進(jìn)行高速并行處理,用于對(duì)采集的電場(chǎng)值和磁場(chǎng)值進(jìn)行處理。該系統(tǒng)去除了電磁場(chǎng)測(cè)量模式選擇開關(guān),采用高速處理FPGA芯片實(shí)現(xiàn)了對(duì)電場(chǎng)和磁場(chǎng)的同步測(cè)量。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人北京森馥科技股份有限公司;
- 發(fā)明人陸德堅(jiān);薛歡;
- 地址100012 北京市朝陽(yáng)區(qū)利澤中二路1號(hào)517室
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201520894761.6
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年11月11日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN205067612U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年03月02日
- 分類號(hào)G01R29/08(2006.01)I;




教育裝備采購(gòu)網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號(hào)

